Laboratorium badawcze

Zobacz:

Laboratorium badawcze

Laboratorium akredytowane

Anga Laboratorium akredytowane

Laboratorium Badawcze ANGA jest akredytowane przez Polskie Centrum Akredytacji (PCA), nr akredytacji AB 701.

Laboratorium Badawcze oferuje usługi pomiarowe (metrologiczne) w zakresie:

przestrzennych pomiarów geometrii wyrobów, z użyciem współrzędnościowej maszyny pomiarowej (CMM),
przestrzennych pomiarów wyrobów i porównania ich z matematycznymi modelami powierzchni z systemów CAD,
przestrzennych pomiarów wyrobów i generowania matematycznych modelów powierzchni,
pomiarów parametrów chropowatości, falistości, profilu pierwotnego, kształtu powierzchni, promienia, kąta.

Metody badawcze

Badania obiektów Grupa obiektów	Badane cechy i metody badawcze
wyroby metalowe, z tworzyw sztucznych, z ceramiki, ze szkła i innych materiałów, z ograniczeniami wynikającymi z elastyczności obiektów.	wymiary liniowe, wymiary kątowe, odchyłki kształtu, kierunku, położenia i bicia; zakres pomiarowy: w osi X do 1000 mm w osi Y do 1200 mm w osi Z do 600 mm przestrzenne pomiary geometrii wyrobów z użyciem współrzędnościowej maszyny pomiarowej ze stykową głowicą skanującą, poprzez pomiar pojedynczych punktów lub skanowanie, z wykorzystaniem lub bez wykorzystania modelu z systemów CAD.
	współrzędne przestrzenne geometrii wyrobów; zakres pomiarowy: w osi X do 700 mm w osi Y do 1000 mm w osi Z do 600 mm przestrzenne pomiary wyrobów i porównanie z matematycznym modelem powierzchni z systemów CAD, z użyciem współrzędnościowej maszyny pomiarowej ze stykową głowicą skanującą, poprzez pomiar pojedynczych punktów lub skanowanie.
	współrzędne przestrzenne geometrii wyrobów; zakres pomiarowy: w osi X do 700 mm w osi Y do 1000 mm w osi Z do 600 mm przestrzenne pomiary wyrobów i generowanie matematycznego modelu powierzchni, z użyciem współrzędnościowej maszyny pomiarowej ze stykową głowicą skanującą, poprzez pomiar pojedynczych punktów lub skanowanie.
	parametry: chropowatości, falistości, profilu pierwotnego; zakres pomiarowy: w osi Z do 2 mm w osi X do 120 mm w osi Y do 100 mm parametry kształtu powierzchni, promień, kąt, porównywanie z DXF; zakres pomiarowy: w osi Z do 28 mm w osi X do 120 mm pomiary parametrów chropowatości, falistości, profilu pierwotnego, kształtu powierzchni, promienia, kąta, porównywanie z DXF, z użyciem systemu pomiarowego do pomiaru struktury geometrycznej powierzchni metodą profilową stykową, poprzez pomiar struktury geometrycznej powierzchni 2D lub 3D.

Laboratorium badawcze

Interferometryczne pomiary płaskości (nieakredytowane)

Za pomocą analizy interferometrycznej można mierzyć płaskość różnego rodzaju powierzchni. Metoda ta jest szczególnie preferowana do pomiaru płaskości powierzchni precyzyjnych części maszyn w tym uszczelnień mechanicznych czołowych. Przy pomocy bezdotykowej technologii optycznej w ciągu kilku sekund przeprowadzana jest analiza całej powierzchni części, bez względu na jej wielkość lub złożoność. Wśród innych pomiarów wyróżnia się głównie dokładnością, usuwa niejednoznaczności interpretacyjne widma interferencyjnego i dokładnie mierzy bardzo małe zmiany wysokości powierzchni.

Do zalet analizy interferometrycznej należą:

pomiar jest niewrażliwy na drgania i turbulencje powietrza;
wyniki pomiaru są ilościowe i powtarzalne, nie ma miejsca na subiektywną interpretację;
przedstawienie graficzne wyniku pomiaru pozwala oglądać rzeźbę powierzchni;
brak styku części i powierzchni odniesienia, a tym samym pomiar rzeczywiście bezstykowy;
pomiar części o średnicy maksymalnej 100 mm w jednym pomiarze bez przemieszczania części.

BADANE OBIEKTY
Wyroby metalowe, z tworzyw sztucznych, z ceramiki, ze szkła i innych materiałów, powierzchnie mogą być szlifowane, docierane, polerowane.

ZAKRES BADANYCH OBIEKTÓW
Pierścienie o średnicy zewnętrznej do 400 mm metodą łączenia uzyskanych obrazów, szerokości do 80 mm, o wadze do 10 kg.

BADANE CECHY
Płaskość, profil liniowy, topografia powierzchni.

WYNIKI BADAŃ
Wyniki mogą być przedstawione w różnych opcjach graficznych: w fałszywych barwach, w liniowych przekrojach poprzecznych, w rozwinięciu promieniowym, w plastycznym obrazie płaskości, na arkuszu kalkulacyjnym, w obrazie siatki 3D.